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很多方法都可以用來測量薄膜的厚度。這些方法中，紫外可見分光光度計提供了簡便的、對薄膜厚度不造成損害的測量方式。
對硅片上兩個不同厚度的光阻層(0.5 μm, 3.0 μm)進行測量。結果發(fā)現，薄膜越薄，波的周期越長，反之亦然。
紫外可見分光光度計
允許對所有種類的薄膜進行簡易的并且不造成薄膜厚度損害的測量。從薄膜的前后表面反射出的光相互交叉形成一個干涉圖。在一定波長范圍內，薄膜的厚度可通過光譜上波的數量計算得到（在物質的折射率已知的情況下）。
我們的 GC 解決方案包括使您能夠成功進行氣相色譜分析的氣相色譜分析儀、進樣器、檢測器，色譜柱、自動進樣器以及軟件。
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